KC- 3130 功率循環(huán)&熱特性智能檢測系統(tǒng)
現(xiàn)代寬禁帶功率器件 (SiC, GaN) 上的開關晶體管速度越來越快,使得測量和表征成為相當大的挑戰(zhàn)。AQG 324特別突出了功率循環(huán)試驗,在整個SiC-MOSFET壽命試驗相關內(nèi)容中,功率循環(huán)試驗不僅被列為首項,且占據(jù)的篇幅超過其他所有試驗項目之和。
廣東·深圳·龍崗布瀾路137號賽兔科技園1棟3樓