Pendulum / Detectus EMC預(yù)兼容測(cè)試掃描儀：
強(qiáng)大、精細(xì)、易用、4D、高性?xún)r(jià)比
幫助客戶(hù)設(shè)計(jì)的新產(chǎn)品順利通過(guò)EMC認(rèn)證
識(shí)別產(chǎn)品的內(nèi)部電磁干擾問(wèn)題，減少內(nèi)部噪聲
排查內(nèi)部EMI熱點(diǎn)，提高設(shè)計(jì)質(zhì)量
在EMC送檢前全面排查問(wèn)題，避免重復(fù)認(rèn)證測(cè)試，省時(shí)、省成本
把關(guān)來(lái)料檢測(cè)，對(duì)不同供應(yīng)商的元器件、電路板、電纜或模塊等材料的電磁輻射進(jìn)行對(duì)比測(cè)試，保證原料品質(zhì)
重復(fù)一致性測(cè)量會(huì)讓設(shè)計(jì)方案之間的對(duì)比測(cè)量變得非常容易
掃描時(shí)：
掃描測(cè)試點(diǎn)之間的空間分辨率可達(dá)25微米
可以進(jìn)行2D或者 4D (3D + 近場(chǎng)探頭旋轉(zhuǎn))掃描
掃描頻率可達(dá) 10 GHz
掃描測(cè)試空間范圍最大可達(dá)：600x400x300毫米。
卓越的軟件能力：
功能強(qiáng)大的測(cè)試軟件對(duì)任意頻點(diǎn)的EMI干擾源進(jìn)行可視化顯示
具有高精度激光測(cè)距選件可以自動(dòng)生成被測(cè)設(shè)備的3D掃描模型
金凱博電子為您提供更全的EMC預(yù)測(cè)試方案，更多請(qǐng)聯(lián)系客服咨詢(xún)
