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Pendulum快速3DEMC/EMI掃描系統(tǒng)與Tektronix 頻譜分析儀
來源:金凱博集團 發(fā)布時間:2022-07-15 類別:行業(yè)動態(tài)
信息摘要:

Detectus 3D EMI電磁輻射掃描機配合使用泰克RSA306B實時便攜式頻譜分析儀。

Detectus 3D EMI電磁輻射掃描機配合使用泰克RSA306B實時便攜式頻譜分析儀。

客戶解決方案總結

挑戰(zhàn):

Eggtronic公司在對其設計布局的EMI發(fā)射行為進行建模以優(yōu)化設計布局方面面臨挑戰(zhàn)。在電路板上應用正確的去耦電容器的影響嚴格取決于此。這需要大量的建模和重新測試,測試時間也在迅速增長,設計成本也在不斷增加。

解決方案:

Detectus 3D EMI電磁輻射掃描機配合使用泰克RSA306B實時便攜式頻譜分析儀。

效益:

Detectus 3D掃描機允許對電路板電磁輻射進行高分辨率的3D建模;Tektronix RSA306B頻譜分析儀的組合實現(xiàn)了極快的掃描程序,而不會影響頻率掃描范圍和頻率分辨率

設計工程師要解決的一個關鍵問題是洞察其設計的電磁性能,以便遵守符合標準規(guī)范,了解輻射和潛在干擾。這對于開關電源設計和AC/DC和DC/DC轉換器尤其適用。

隨著寬帶隙器件的廣泛采用(如GaN和SiC),電源正轉向更快的高壓和大電流開關波形,這些波形在傳導和輻射發(fā)射中產生電磁干擾(EMI)。

?      工程師如何將EMI輻射抑制在標準可接受限制值以下?

?      他們如何證明他們的設計技術是有效的?

?      他們如何找到并了解噪聲源(例如,不僅定位噪聲源,而且識別設計板上發(fā)生的所有耦合機制)?

?      寄生電容和電流回路將如何改變電路設計圖?

?      工程師如何知道他們的修正是否有效?他們如何證明選擇的去耦電容器的尺寸是正確的?他們如何測試自己設計的電感既有效又不影響電路板的關鍵區(qū)域

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圖1. 從Pendulum EMC掃描儀應用軟件獲得的重疊三維輻射圖

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圖2. EMC掃描儀移動近場探頭對貼近被測物表面等距進行3D3D輻射掃描

意大利Eggtronic公司是一家致力于創(chuàng)新電力電子解決方案的高新企業(yè),所有類似企業(yè)中的設計工程師每天都要處理這一類問題。

Eggtronic的首席技術官恩里科?丹特(Enrico Dente)表示,EMC是開關電力電子新設計面臨的主要挑戰(zhàn)之一。

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圖3. 泰克RSA306B是處理采集數(shù)據(jù)的核心頻譜分析系統(tǒng)

“我非常熱衷于使用Pendulum提供的先進3D EMI測量技術來測試我們最新的實驗室原型機。我們測試的電路板是一種隔離的AC-DC變換器,基于Eggtronic的無變壓器專利技術,在MHz頻率以上有效工作,這要歸功于GaN器件和我們專有的電路拓撲結構。通過分析使用EMCEMC電磁兼容3D掃描儀測量分析3D掃描儀測量分析,我們可以深入了解在哪些頻率和哪些位置有EMI干擾,我們可以在EMI排放方面改進產品設計。”

“很明顯,測量工程師很清楚需要進行3D EMC掃描,以便在空間中繪制出電感周圍輻射干擾的區(qū)域。3D掃描可以可視化顯示整個輻射路徑的關鍵臨界頻率,并評估使用正確的去耦電容器來消除影響。” 里科?丹特(Enrico Dente)說道。

他們目前使用Pendulum EMC 3D掃描儀掃描儀與Tektronix RSA306B實時便攜式頻譜分析儀相結合的解決方案。

客戶需要以1mm甚至0.1mm的空間分辨率進行重復的掃描測量。根據(jù)使用的頻率掃描范圍和分辨率頻率,在一個相對較大的板上運行這些測試是非常耗時的

“如果用普通的頻譜分析儀進行的每一項測試都有持續(xù)時間過長的風險。對于電路板的每一點分析,都需要在整個頻譜上完成采集,并將采集的數(shù)據(jù)傳輸?shù)焦P記本電腦上進行處理,”Enrico Dente說。

“為了避免長時間采集,最好的配套頻譜分析儀是泰克公司的RSA306B頻譜分析儀。該儀器非常靈活,體積小,成本合理,但其真正的優(yōu)點是實時采集速度快。這允許快速收集數(shù)據(jù),以便在合理的時間內進行全面掃描,并在必要時進行重復掃描,以便立即看到我們設計修正的效果。” Enrico Dente說

據(jù)Pendulum首席技術官Jan Eriksson介紹,泰克RSA306B可以無縫集成到他們的3D掃描系統(tǒng)中?!凹词乖谝蟮姆直媛蕩捄苄〉那闆r下,它在大頻率范圍內的掃描時也是快速和可靠的。這使得我們的客戶可以在最小化3D掃描的測試時間與任何頻率掃描分辨率方面達到平衡。這也縮短了測量時間,并為分析獲得的數(shù)據(jù)留出了更多的時間。